晶圓鍍層X(jué)射線(xiàn)熒光測厚儀

晶圓鍍層X(jué)射線(xiàn)熒光測厚儀應用領(lǐng)域

電鍍行業(yè)、電子通訊、航天新能源、五金衛浴、電器設備
汽車(chē)制造、磁性材料、貴金屬電鍍、高校及科研院所等

晶圓鍍層X(jué)射線(xiàn)熒光測厚儀超高硬件配置

采用Fast-SDD探測器,高達129eV分辨率,能精準地解析每個(gè)元素的特征信號,針對復雜底材以及多層復雜鍍層,同樣可以輕松測試。
搭配大功率X光管,能很好的保障信號輸出和激發(fā)的穩定性,減少儀器故障率。
高精度自動(dòng)化的X、Y、Z軸的三維聯(lián)動(dòng),更精準快速地完成對微小異型(如弧形、拱形、螺紋、球面等)測試點(diǎn)的定位。

晶圓鍍層X(jué)射線(xiàn)熒光測厚儀設計亮點(diǎn)

上照式設計，可適應更多異型微小樣品的測試。相較傳統光路，信號采集效率提升2倍以上?？勺兘垢呔珨z像頭，搭配距離補正系統，滿(mǎn)足微小產(chǎn)品，臺階，深槽，沉孔樣品的測試需求?？删幊套詣?dòng)位移平臺，微小密集型可多點(diǎn)測試，大大提高測樣效率。自帶數據校對系統。

晶圓鍍層X(jué)射線(xiàn)熒光測厚儀軟件界面

人性化的軟件界面，讓操作變得更加便捷。
曲線(xiàn)的中文備注，讓您的操作更易上手。
儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監控，讓您的使用更加放心。